RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2013, том 83, выпуск 10, страницы 139–142 (Mi jtf8598)

Краткие сообщения

Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами

С. А. Лященкоab, И. А. Тарасовab, С. Н. Варнаковab, Д. В. Шевцовab, В. А. Швецcd, В. Н. Заблудаa, С. Г. Овчинниковab, Н. Н. Косыревab, Г. В. Бондаренкоa, С. В. Рыхлицкийd

a Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск
b Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева, Красноярск
c Новосибирский государственный университет
d Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Методом термического испарения в сверхвысоком вакууме получена тонкая поликристаллическая пленка Fe на монокристаллической подложке Si с естественным оксидом SiO$_2$. Исследованы магнитооптические свойства полученной структуры in situ методами спектральной эллипсометрии. Найдены значения коэрцитивной силы пленки Fe, построены петля перемагничивания и энергетическая зависимость экваториального эффекта Керра. Показана эффективность магнитоэллипсометрии для in situ анализа геометрических и магнитооптических свойств тонких слоев ферромагнетиков.

Поступила в редакцию: 26.10.2012


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2013, 58:10, 1529–1532

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026