XXIX Cимпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород 10-14 марта 2025 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Диагностика электронного пучка ЦКП “СКИФ” в жестком рентгеновском диапазоне

Ю. В. Хомяков^ab, О. И. Мешков^b, В. П. Назьмов^bc, Я. В. Ракшун^bd, В. А. Чернов^b, Н. И. Чхало<sup>e

a</sup> Центр коллективного пользования «Сибирский кольцевой источник фотонов», 630559 Кольцово, Новосибирская обл., Россия
^b Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
^c Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
^d Институт геологии и минералогии им. В.С. Соболева СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
^e Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Кратко описаны некоторые методы измерения сверхнизкого эмиттанса электронного пучка в жестком рентгеновском диапазоне. Показано, что комбинирование методов диагностики позволит исключить влияние ошибок, вносимых отдельными рентгенооптическими элементами. Проведено моделирование пучков излучения в соответствии с предложенными схемами измерения эмиттанса. Для наиболее консервативной схемы, камеры-обскуры, оценка достижимого разрешения составила 3.7 $\mu$m. Предложена оптическая схема специализированной диагностической станции для ЦКП “СКИФ”.

Ключевые слова: синхротронное излучение, жесткий рентген, электронный эмиттанс, пинхол, спекл-картина, билинза Бийе, опыт Юнга, интерферометр Юнга, интерферометр Бийе, камера-обскура, зеркало Киркпатрика–Баеза.

Поступила в редакцию: 05.06.2025
Исправленный вариант: 05.06.2025
Принята в печать: 05.06.2025

DOI: 10.61011/JTF.2025.10.61351.140-25

Реферативные базы данных:

•