Эта публикация цитируется в 5 статьях

Физическое материаловедение

Фазовый размерный эффект в тонких поликристаллических плeнках Ge–Se

Е. В. Александрович^a, Е. В. Степанова^a, А. В. Вахрушев^a, А. Н. Александрович^b, Д. Л. Булатов<sup>a

a</sup> Институт механики УрО РАН, г. Ижевск
^b Удмуртский государственный университет, г. Ижевск

Аннотация: B спектральном диапазоне 110–310 cm$^{-1}$ исследованы спектры Рамана тонких ($d$ = 60–170 nm) поликристаллических плeнок Ge–Se, полученных вакуумным термическим испарением стекла Ge$_{10}$Se$_{90}$. Методом рентгеновской дифракции установлено сосуществование в плeнках стеклообразной и кристаллических фаз $\alpha$-Se, $\beta$-Se и $\beta$-GeSe$_2$. Анализ дифрактограмм и спектров Рамана поликристаллических образцов различной толщины показал наличие фазового размерного эффекта перехода Se из $\alpha$-моноклинной модификации в $\beta$-моноклинную ($d\sim$ 120 nm). Обнаружено, что кристаллическая фаза Se является нанодисперсной со средними размерами зeрен $\sim$ 30–50 nm. Кристаллиты $\beta$-GeSe$_2$ имеют средние размеры $\sim$ 100–130 nm.

Поступила в редакцию: 16.10.2012

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2013, 58:9, 1291–1296

Реферативные базы данных:

•