RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2014, том 84, выпуск 10, страницы 48–50 (Mi jtf8220)

Физическое материаловедение

О возможности элементного анализа кристаллических твердых тел методом дифракции рентгеновских лучей

В. М. Стожаров

Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, 191186 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Предложен новый метод элементного анализа кристаллических твердых тел методом дифракции рентгеновских лучей. На примере образцов природного алюмисиликата и окислов титана показана возможность применения метода к многокомпонентным полиморфным системам, включая широкий диапазон анализируемых элементов и количественное определение их массовых концентраций без помощи внешнего или внутреннего стандарта.

Поступила в редакцию: 10.09.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2014, 59:10, 1466–1469

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026