RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2014, том 84, выпуск 1, страницы 104–108 (Mi jtf7988)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Оптика

Оптические свойства эпитаксиальных тонких пленок BiFeO$_3$

В. Б. Широковab, Ю. И. Головкоa, В. М. Мухортовab

a Южный научный центр РАН, 344006 Ростов-на-Дону, Россия
b Южный федеральный университет, 344006 Ростов-на-Дону, Россия

Аннотация: Исследованы свойства наноразмерных пленок BiFeO$_3$, допированных неодимом, на монокристаллических подложках оксида магния, полученных методом высокочастотного распыления по слоевому механизму роста. Структурное совершенство пленок изучено методами рентгеновской дифракции. Пропускание пленок различной толщины исследовано в диапазоне длин волн 200–1100 nm. Спектры обработаны с использованием дисперсионной формулы для диэлектрической проницаемости в виде суммы осцилляторов с учетом релаксации, что позволило выделить прямые и непрямые переходы. Край поглощения оценен для прямых переходов как 2.81 и 2.78 eV для пленок толщиной 14 и 60 nm соответственно.

Поступила в редакцию: 13.12.2012


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2014, 59:1, 102–106

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026