Аннотация:
Предложен метод поляризационного измерения толщины $Z$-срезов одноосных кристаллов, заключающийся в измерении пропускания системы “поляризатор-кристалл-анализатор” при различных углах поворота кристалла. Разработано математическое описание метода на основе оптики одноосных кристаллов и аппарата матриц Джонса. Сделана оценка погрешности измерения по формуле геометрической суммы, которая составила не более $\pm$ 0.6 $\mu$m. С использованием кристаллов $Z$-среза конгруэнтного ниобата лития с номинальными толщинами 514 и 554 $\mu$m проведена экспериментальная апробация метода и даны практические рекомендации по его использованию.
Полный текст:
PDF файл (144 kB)
