Оптика

Визуализация дефектов отдельных компонент тонких композитных элементов с одномерной дифракционной структурой

А. М. Ляликов

Гродненский государственный университет им. Я. Купалы, 230023 Гродно, Белоруссия

Аннотация: Рассмотрены особенности реализации методов раздельного контроля качества отдельных компонент тонких композитных дифракционных элементов, имеющих одномерную периодическую структуру. Предложены и проанализированы различные оптические схемы визуализации дефектов отдельных компонент. На примере композитного дифракционного элемента, представляющего собой набор оптических компонент, в виде тонкой прозрачной пластины с поверхностями, имеющими определенную кривизну, и одномерной периодической микроструктурой, показана возможность раздельной визуализации дефектов подложки и периодической структуры. Представлены интерференционные картины качества тонкой подложки и периодической структуры композитного элемента, представляющего собой амплитудную решетку, записанную в тонком светочувствительном слое, расположенном между двумя стеклянными подложками.

Поступила в редакцию: 22.04.2015

 Англоязычная версия: Technical Physics, 2015, 60:12, 1849–1853

Реферативные базы данных:

•