RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2015, том 85, выпуск 12, страницы 6–11 (Mi jtf7951)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Теоретическая и математическая физика

Расчёт рефлектометрических характеристик с учетом профильной неоднородности переходного слоя

В. В. Шагаев

Калужский филиал МГТУ им. Н. Э. Баумана, 248000 Калуга, Россия

Аннотация: Рассмотрена задача о влиянии переходного слоя с малой фазовой толщиной на результаты рефлектометрических исследований. Методом теории возмущений получены выражения для коэффициентов отражения электромагнитных волн с $p$- и $s$-поляризацией. Выполнен анализ логарифмической производной от коэффициента отражения по углу для волны с $p$-поляризацией. Показано, что вблизи угла Брюстера производная имеет ярко выраженные особенности, связанные с электродинамическими параметрами переходного слоя. Представлены результаты расчетов для диффузионных слоев.

Поступила в редакцию: 30.10.2014


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2015, 60:12, 1738–1743


© МИАН, 2026