Физическое материаловедение

Экспериментальное определение остаточных деформаций и напряжений в ВТСП проводе второго поколения

А. В. Иродова, И. Д. Карпов, О. А. Кондратьев, В. С. Круглов, В. Е. Крылов, С. В. Шавкин, В. Т. Эм

Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", 123182 Москва, Россия

Аннотация: Методами дифракции рентгеновских лучей и нейтронов измерены остаточные деформации и напряжения в основных компонентах изготовленного в Национальном исследовательском центре “Курчатовский институт” сверхпроводящего провода второго поколения на основе иттриевой керамики – в несущей стальной ленте-подложке, буферных слоях Y$_{0.15}$Zr$_{0.85}$O$_2$ и CeO$_2$, сверхпроводящем слое YBa$_2$Cu$_3$O$_7$. Прослежены их изменения в процессе изготовления провода. Достоверность полученных результатов подтверждается их согласованностью. Представленный метод определения внутренних деформаций и напряжений является универсальным и подходит для проводов с разными несущими лентами, буферными и сверхпроводящими слоями.

Ключевые слова: ВТСП-2, остаточная деформация/напряжение, лента AISI 310S, YSZ, CeO$_2$, YBCO, дифракция нейтронов, дифракция рентгеновских лучей.

Поступила в редакцию: 18.05.2024
Исправленный вариант: 22.11.2024
Принята в печать: 29.11.2024

DOI: 10.61011/JTF.2025.04.60009.185-24

Реферативные базы данных:

•