Физическая электроника

Изучение оптически наведенного заряда наночастиц Au в пленках ZrO$_2$(Y) методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии

Д. О. Филатов^a, А. С. Новиков^a, М. Е. Шенина^a, И. Н. Антонов^b, А. В. Нежданов^c, И. А. Казанцева^c, О. Н. Горшков<sup>a

a</sup> Научно-образовательный центр "Физика твердотельных наноструктур", Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, 603022 Нижний Новгород, Россия
^b Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 603022 Нижний Новгород, Россия
^c Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, физический факультет, 603022 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Методом сканирующей Кельвин-зонд микроскопии исследованы аккумуляция и релаксация оптически-наведенного электрического заряда в пленках ZrO$_2$(Y) со встроенным однослойным массивом наночастиц Au диаметром 2–3 nm в зависимости от глубины залегания наночастиц Au в слое ZrO$_2$(Y) и мощности оптического возбуждения на длинах волн 473 и 633 nm.

Ключевые слова: тонкопленочные системы, стабилизированный диоксид циркония, наночастицы, плазмонный резонанс.

Поступила в редакцию: 06.05.2022
Исправленный вариант: 27.07.2022
Принята в печать: 01.08.2022

DOI: 10.21883/JTF.2022.12.53760.123-22

Реферативные базы данных:

•