RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2022, том 92, выпуск 8, страницы 1253–1260 (Mi jtf7426)

XXVI Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14-17 марта 2022 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Исследование изменения реальной формы круглых тонкопленочных мембран при реализации метода выдувания

А. А. Дедкова, Н. А. Дюжев

Национальный исследовательский университет "МИЭТ", 124498 Зеленоград, Москва, Россия

Аннотация: Проведено исследование степени сферичности реальной формы круглых тонкопленочных мембран при ее изменении в процессе реализации метода выдувания. Изучены сформированные Bosch-процессом круглые тонкопленочные мембраны со структурой SiN$_x$/SiО$_2$/SiN$_x$/SiО$_2$, pSi$^*$/SiN$_x$/SiO$_2$, Al и др. Описана методика, позволяющая определить области отклонения формы поверхности мембраны от сферической, оценить величину и характер распределения радиуса кривизны вдоль диаметра мембраны. Показано, что форма мембран отличается от сферической ближе к области закрепления, а также во многих случаях и к области вершины (центра) мембраны. Также обнаружена тенденция к увеличению радиуса кривизны по мере приближения к центру мембраны.

Ключевые слова: тонкие пленки, мембрана, механические характеристики, механические напряжения, деформация, прогиб, микроэлектромеханические системы, МЭМС, круглая мембрана, кремниевая подложка, оптическая профилометрия, избыточное давление, метод выдувания, поверхность, рельеф, радиус кривизны, кривизна.

Поступила в редакцию: 07.04.2022
Исправленный вариант: 07.04.2022
Принята в печать: 07.04.2022

DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52793.86-22



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026