Аннотация:
Представлены результаты исследования кристаллической структуры и поверхностной проводимости подложки кремния Si(111) с реконструированной поверхностью после напыления субмонослойных доз лития. Использован метод дифракции медленных электронов для исследования изменений структуры кристаллической решетки поверхности, а также четырехзондовый метод для измерения проводимости подложек в условиях in situ. В качестве исходных реконструкций была использована реконструкция Si(111)7 $\times$ 7 атомарно-чистой подложки кремния, а также реконструкции, полученные адсорбцией 1 ML атомов золота, свинца и висмута: Si(111)$\beta$ – $\sqrt{3}$$\times$$\sqrt{3}$ – Au, Si(111)1 $\times$ 1 – Pb и Si(111)$\beta$ – $\sqrt{3}$$\times$$\sqrt{3}$ – Bi соответственно.
Полный текст:
PDF файл (609 kB)