Эта публикация цитируется в 2 статьях

XXVI Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14-17 марта 2022 г.
Фотоника

Система визуализации плазменного факела бетатронного источника рентгеновского излучения

Е. С. Антюшин^a, А. А. Ахсахалян^a, С. Ю. Зуев^a, А. Я. Лопатин^a, И. В. Малышев^a, А. Н. Нечай^a, А. А. Перекалов^a, А. Е. Пестов^a, Н. Н. Салащенко^a, М. Н. Торопов^a, Б. А. Уласевич^a, Н. Н. Цыбин^a, Н. И. Чхало^a, А. А. Соловьев^b, М. В. Стародубцев<sup>b

a</sup> Институт физики микроструктур РАН, 607680 Нижний Новгород, Россия
^b Институт прикладной физики РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Описана конструкция микроскопа для изучения бетатронного источника излучения на базе фемтосекундного лазерного комплекса PEARL в мягком рентгеновском (МР) и экстремально ультрафиолетовом (ЭУФ) диапазоне длин волн. Основной оптический элемент микроскопа – сферический объектив Шварцшильда с пятикратным увеличением. Прибор позволил исследовать размеры и пространственную структуру области взаимодействия лазерного излучения с веществом, на выбранной длине волны в ЭУФ или МР диапазоне с разрешением $\delta x$ = 2.75 $\mu$m. Рабочая длина волны ($\lambda$ = 13.5 nm) задается многослойными рентгеновскими зеркалами. Для подавления фоновой составляющей сигнала использованы тонкопленочные абсорбционные фильтры.

Ключевые слова: МР и ЭУФ излучение, изображающая рентгеновская оптика, МР микроскоп, бетатронное излучение.

Поступила в редакцию: 05.04.2022
Исправленный вариант: 05.04.2022
Принята в печать: 05.04.2022

DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52784.80-22

Реферативные базы данных:

•