RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2022, том 92, выпуск 4, страницы 596–603 (Mi jtf7332)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Твердотельная электроника

Синтез CVD-алмаза детекторного качества для радиационно-стойких детекторов ионизирующего излучения

А. В. Красильниковa, Н. Б. Родионовa, А. П. Большаковb, В. Г. Ральченкоb, С. К. Вартапетовc, Ю. Е. Сизовc, С. А. Мещаниновa, А. Г. Трапезниковa, В. П. Родионоваa, В. Н. Амосовa, Р. А. Хмельницкийa, А. Н. Кириченкоa

a Частное учреждение Государственной корпорации по атомной энергии "Росатом" "Проектный центр ИТЭР", 123182 Москва, Россия
b Федеральный исследовательский центр Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, 119991 Москва, Россия
c ООО "Оптосистемы", 108841 Троицк, Москва, Россия

Аннотация: Сообщается о первом опыте создания в “Проектном центре ИТЭР” на усовершенствованном СВЧ плазменном реакторе ARDIS-300 гомоэпитаксиальных структур посредством CVD-синтеза пленок монокристаллического алмаза. Методом осаждения из газовой фазы в смесях метан-водород в реакторе с СВЧ плазмой получены эпитаксиальные алмазные пленки высокого качества на легированных бором монокристаллических подложках алмаза. Структурное и примесное совершенство пленок охарактеризовано с применением спектроскопии комбинационного рассеяния света, фотолюминесценции и оптического поглощения. На пленках толщиной 70–80 $\mu$m, выращенных на подложках с проводимостью $p$-типа и концентрацией бора $\sim$100 ppm, служащих контактом, созданы прототипы радиационных детекторов, измерены их чувствительность и амплитудные спектры в потоках альфа-частиц и нейтронов c энергией 5.5 и 14.7 MeV соответственно. Показано, что при облучении альфа-частицами и нейтронами эффективность сбора заряда в синтезированном алмазе при приложенном поле $\sim$4 V/$\mu$m достигает 94 и 91% соответственно.

Ключевые слова: алмазные пленки, эпитаксия, алмазный детектор.

Поступила в редакцию: 30.07.2021
Исправленный вариант: 21.01.2022
Принята в печать: 21.01.2022

DOI: 10.21883/JTF.2022.04.52247.226-21



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026