Эта публикация цитируется в 1 статье

Физические приборы и методы эксперимента

Алгоритм предварительного анализа дифракционных спектров для нанокомпозитных материалов с примесью массивной фракции

О. А. Алексеева^ab, А. А. Набережнов<sup>c

a</sup> Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 195251 Санкт-Петербург, Россия
^b Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, 634050 Томск, Россия
^c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Рассмотрены вопросы, связанные с влиянием возможного вклада массивного материала на форму линии упругих пиков, наблюдаемых в дифракционных экспериментах по рассеянию нейтронов и/или рентгеновского излучения на нанопористых матрицах, содержащих внедренные в поры вещества. Предложен алгоритм, который позволяет получить оценку вклада от массивной фракции в дифракционные пики из анализа наблюдаемых в эксперименте искажений формы линии брэгговских пиков. Такой предварительный анализ существенно упрощает проведение полнопрофильного анализа дифрактограмм для нанокомпозитных материалов, в первую очередь для изготовленных на основе порошков молекулярных сит типа SBA-15, MCM-41, MCM-48 и т. п.

Ключевые слова: пористые матрицы, дифракция, нанокомпозитные материалы, форма линии упругих пиков, высшие центральные моменты распределения.

Поступила в редакцию: 07.07.2021
Исправленный вариант: 11.09.2021
Принята в печать: 13.09.2021

DOI: 10.21883/JTF.2022.01.51866.208-21

Реферативные базы данных:

•