Аннотация:
Представлены результаты записи микро- и нанодоменных структур заданной конфигурации в тонкой пленке LNOI (LiNbO$_3$-on-insulator) неполярной (Х-) ориентации полем зонда атомно-силового микроскопа и обсуждены их свойства. Исследование доменных структур проведено методом микроскопии пьезоотклика. Получены зависимости длины доменов от длительности импульса и напряжения, которые хорошо подчиняются экспоненциальной и линейной функциям соответственно. Измерены пьезоэлектрические петли гистерезиса и произведена оценка коэрцитивных и смещающих напряжений. Анализ петель гистерезиса показал, что величины коэрцитивных и смещающих напряжений практически не зависят от времени импульса подаваемого на зонд напряжения.
Полный текст:
PDF файл (316 kB)