XXVII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'' Н. Новгород, 13-16 марта, 2023 г.
Физическая электроника

Визуализация магнитных полей в растровом электронном микроскопе

Д. А. Татарский^ab, Е. В. Скороходов^a, С. А. Гусев<sup>a

a</sup> Институт физики микроструктур РАН, 603087 д. Афонино, Кстовский р-он, Нижегородская обл., Россия
^b Национальный исследовательский Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Продемонстрирована принципиальная возможность измерения распределений полей рассеяния магнитных объектов в растровом электронном микроскопе. Основная идея метода заключается в использовании держателя образцов для работы в режиме сканирующего просвечивающего микроскопа, дополнительно оснащенном квадратной дифракционной решеткой. Эта решетка, сформированная на основе металлической пленки, размещена на некотором расстоянии под магнитным образцом. Восстановление отклонений прошедших электронов методом анализа геометрической фазы по видимым искажениям дифракционной решетки позволила реконструировать распределение магнитного поля, создаваемое исследуемым образцом.

Ключевые слова: лоренцева электронная микроскопия, электронная голография, магнитное поле, магнитные наноструктуры.

Поступила в редакцию: 12.04.2023
Исправленный вариант: 12.04.2023
Принята в печать: 12.04.2023

DOI: 10.21883/JTF.2023.07.55762.81-23

Реферативные базы данных:

•