Аннотация:
Развит метод диагностики концентрации ионосферной плазмы на борту микроспутника с помощью резонатора, выполненного на отрезке двухпроводной линии. В основе измерений параметров плазмы лежит амплитудно-фазовый метод, позволяющий расширить динамический диапазон измеряемых значений на три порядка, не увеличивая длину резонатора. Приведена методика измерений и ее экспериментальная апробация на плазменном стенде в условиях, максимально приближенных к ионосферным.