RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2023, том 93, выпуск 1, страницы 81–88 (Mi jtf6918)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Плазма

Резонансный метод измерения концентрации ионосферной плазмы на микроспутниках

А. Г. Галка, А. В. Костров, М. С. Малышев

Институт прикладной физики Российской академии наук, 603950 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Развит метод диагностики концентрации ионосферной плазмы на борту микроспутника с помощью резонатора, выполненного на отрезке двухпроводной линии. В основе измерений параметров плазмы лежит амплитудно-фазовый метод, позволяющий расширить динамический диапазон измеряемых значений на три порядка, не увеличивая длину резонатора. Приведена методика измерений и ее экспериментальная апробация на плазменном стенде в условиях, максимально приближенных к ионосферным.

Ключевые слова: микро- и наноспутник, диэлектрическая проницаемость, собственная частота резонатора, амплитудно-фазовый метод.

Поступила в редакцию: 27.07.2022
Исправленный вариант: 25.10.2022
Принята в печать: 26.10.2022

DOI: 10.21883/JTF.2023.01.54066.192-22



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026