RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2024, том 94, выпуск 8, страницы 1323–1330 (Mi jtf6835)

XXVIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Н. Новгород, 11-15 марта 2024 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Стенд для тестирования чувствительных к экстремальному ультрафиолетовому излучению фоторезистов

А. Я. Лопатин, В. И. Лучин, А. Н. Нечай, А. А. Перекалов, А. Е. Пестов, Д. Г. Реунов, Н. И. Чхало

Институт физики микроструктур РАН, 603087 Афонино, Кстовский р-он, Нижегородская обл., Россия

Аннотация: Описан экспериментальный стенд для тестирования чувствительных к экстремальному ультрафиолетовому излучению фоторезистов. Стенд построен на базе лазерно-плазменного источника на основе Nd : YAG-лазера (энергия импульса 0.8 J, длительность импульса 5.2 ns, диаметр пятна фокусировки 66 $\mu$m, пиковая интенсивность до 3 $\cdot$ 10$^{12}$ W/cm$^2$) и газовой струи в качестве мишени, а также зеркального монохроматора (сменное многослойное рентгеновское зеркало, оптимизированное на выбранную длину волны). Стенд оснащен набором зеркал и фильтров для экспонирования образцов на длинах волн 11.2, 13.9 и 30.4 nm. В качестве рабочего газа использованы Kr, Ar и He, ионы которых Kr X, Ar VIII и He II имеют интенсивные эмиссионные полосы в окрестности обозначенных длин волн. Проведено тестирование прибора на образцах фоторезиста, определены форма пятна фокусировки и его размеры, которые составили около 0.5 $\times$ 1.0 mm$^2$.

Ключевые слова: многослойные рентгеновские зеркала, монохроматор, коллектор, рентгеновский и экстремальный ультрафиолетовый диапазон длин волн, фоторезист, ЭУФ литография.

Поступила в редакцию: 26.04.2024
Исправленный вариант: 26.04.2024
Принята в печать: 26.04.2024

DOI: 10.61011/JTF.2024.08.58560.142-24



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026