КОНДЕНСИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ

Резонансное неупругое рассеяние рентгеновских лучей на Fe $L_{2,3}$-краях поглощения оксидов SrFeO$_x$ ($x=2.46$ и $2.82$)

В. Р. Галахов^a, К. Кюппер<sup>b

a</sup> Институт физики металлов им. М.Н.Михеева Уральского отделения РАН, 620108 Екатеринбург, Россия
^b University of Osnabrück, Department of Physics and Center of Physics and Chemistry of New Materials, 49076 Osnabrück, Germany

Аннотация: Спектры резонансного неупругого рентгеновского рассеяния (RIXS) на Fe $L_{2,3}$-краях поглощения применены для изучения электронной структуры SrFeO$_{2.46}$ и SrFeO$_{2.82}$. RIXS-спектры SrFeO$_{2.82}$, по сравнению со спектрами SrFeO$_{2.46}$, характеризуются менее интенсивными пиками упругой рекомбинации и менее выраженными неупругими спектральными особенностями, что связано с с меньшей степенью локализации $d^4+d^5 \underline L$ состояний по сравнению с $d^{5}$-состояниями. Особенности неупругого рассеяния RIXS-спектров отнесены к возбуждениям $d$–$d$. При более высоких энергиях возбуждения, где возбужденная в континуум флуоресценция становится доминирующей, спектры рентгеновской эмиссии хорошо согласуются с результатами измерения фотоэлектронных спектров валентных полос как SrFeO$_{2.46}$, так и SrFeO$_{2.82}$. Показано, что для интерпретации RIXS-спектров феррита SrFeO$_{2.46}$ с трехвалентными ионами железа, находящимися как в октаэдрах, так и в тетраэдрах из ионов кислорода, можно использовать диаграммы Танабе–Сугано.

Поступила в редакцию: 16.04.2025
Исправленный вариант: 29.06.2025
Принята в печать: 07.07.2025

DOI: 10.31857/S0370274X25080091