RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Интеллектуальные системы. Теория и приложения // Архив

Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 2020, том 24, выпуск 1, страницы 143–152 (Mi ista263)

Часть 3. Математические модели

Короткие единичные диагностические тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН

Аннотация: Доказано, что почти любую булеву функцию от $n$ переменных можно реализовать неизбыточной двухполюсной контактной схемой, допускающей единичный диагностический тест длины 8 относительно обрывов и замыканий контактов.

Ключевые слова: контактная схема, булева функция, обрыв контакта, замыкание контакта, единичный диагностический тест.



© МИАН, 2026