RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Интеллектуальные системы. Теория и приложения
// Архив
Интеллектуальные системы. Теория и приложения,
2020
, том 24,
выпуск 1,
страницы
143–152
(Mi ista263)
Часть 3. Математические модели
Короткие единичные диагностические тесты для контактных схем при обрывах и замыканиях контактов
К. А. Попков
Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН
Аннотация:
Доказано, что почти любую булеву функцию от
$n$
переменных можно реализовать неизбыточной двухполюсной контактной схемой, допускающей единичный диагностический тест длины 8 относительно обрывов и замыканий контактов.
Ключевые слова:
контактная схема, булева функция, обрыв контакта, замыкание контакта, единичный диагностический тест.
Полный текст:
PDF файл (361 kB)
Список литературы
©
МИАН
, 2026