Краткие сообщения

Наблюдение тонкой структуры перестроенной поверхности микрокристаллов методом импульсной автоэмиссионной микроскопии

Д. Н. Кротевич, В. Э. Птицын, Г. Н. Фурсей

Ленинградский электротехнический институт инженеров связи

УДК: 537.533.35

Поступила в редакцию: 07.04.1986

Реферативные базы данных:

•