Краткие сообщения

Оже-механизм распада электронных дефектов при термостимулированной экзоэмиссии

А. М. Шкилько, С. И. Гордеев, С. В. Троицкий

Украинский заочный политехнический институт им. И. 3. Соколова

УДК: 537.311.33

Поступила в редакцию: 15.02.1988
Исправленный вариант: 26.04.1988

Реферативные базы данных:

•