RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 1988, том 30, выпуск 9, страницы 2791–2795 (Mi ftt4859)

Эффекты высокой плотности в тонкой структуре экситонного резонанса кристалла CdS

Д. К. Нельсон, Б. С. Разбирин

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, г. Ленинград

Аннотация: Исследовались спектры экситонной люминесценции кристалла CdS при высокой плотности возбуждения в поляризации ${{\mathbf E}\parallel{\mathbf c}}$. Установлено, что при повышении интенсивности возбуждения $P$ до 100 кВт/см$^{2}$ положение узкой линии запрещенного экситона $A_{F}(\Gamma_{6})$ остается неизменным с точностью до 0.05 мэВ, что свидетельствует о неизменном положении экситонного уровня. В то же время обнаружено длинноволновое смещение линии продольного экситона $A_{L}(\Gamma_{5L})$ при повышении плотности накачки. При ${P=100\,\text{кВт/см}^{2}}$ величина этого смещения составляет 0.5 мэВ. Данное смещение связывается с уменьшением величины продольно-поперечного расщепления и соответственно силы осциллятора экситонного перехода, обусловленным экранированием кулоновского взаимодействия в системе экситонов и носителей высокой плотности. Отмечается, что наблюдаемый эффект может служить методом оценки уменьшения энергии связи экситона при повышении плотности возбуждения.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 07.04.1988



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026