RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 1984, том 26, выпуск 1, страницы 33–37 (Mi ftt2535)

Исследование конфигурации ядер смешанных дислокаций 1/2 [111] в вольфраме методом полевой ионной микроскопии

И. М. Михайловский, В. А. Ксенофонтов

Харьковский физико-технический институт АН УССР

Аннотация: Исследована на атомном уровне структура ядер смешанных дислокаций 1/2 [111] в вольфраме. Показано, что дислокации расщеплены с образованием дефекта упаковки в плоскости \{101\}. С помощью методики контролируемого полевого испарения установлено, что ширина ленты дефекта упаковки непостоянна вдоль линии дислокации. Наблюдается максимум при значении полуширины вблизи 0.5 нм. Показано, что градиент смещения на периферии ядра дислокации составляет 0.13. В результате анализа атомных смещений в ядре дислокации сделан вывод, что лента дефекта упаковки ограничена локализованной частичной дислокацией.

УДК: 548.4;537.534.3

Поступила в редакцию: 28.06.1983



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026