RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 1985, том 27, выпуск 12, страницы 3521–3525 (Mi ftt2482)

Достоверны ли результаты, получаемые с помощью электронно-микроскопической методики $2\frac{1}{2}\,D$

Д. И. Пискунов

Московский институт электронной техники

Аннотация: Теоретически и экспериментально изучено влияние дефокусировки на микрофотографии тетраэдров дефектов упаковки. Показано, что амплитудно-фазовые эффекты сопровождаются смещениями изображений. Ставится вопрос о правомочности использования методики $2\frac{1}{2}\,D$ в качественной форме. Показано, что количественные измерения с помощью этой методики недостоверны.

УДК: 537.22

Поступила в редакцию: 17.07.1984



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026