RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2010, том 52, выпуск 2, страницы 370–376 (Mi ftt13631)

Низкоразмерные системы. Физика поверхности

Исследование сверхтонких пленок силицида железа, выращенных твердофазной эпитаксией на поверхности Si(001)

В. В. Балашевab, В. В. Коробцовab, Т. А. Писаренкоab, Е. А. Чусовитинa, К. Н. Галкинa

a Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
b Институт физики и информационных технологий, Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток

Аннотация: Сверхтонкие пленки силицида железа были выращены путем высокотемпературного отжига пленок Fe толщиной от 0.14 до 0.5 nm, осажденных на поверхность кремния с ориентацией (001) при комнатной температуре. Обнаружено, что отжиг приводит к образованию на поверхности нанометровых островков силицида железа, тип которого зависит от толщины пленки Fe. С использованием методов дифракции быстрых электронов и атомно-силовой микроскопии показано, что для пленок Fe толщиной менее 0.32 nm на поверхности Si(001) происходит эпитаксиальный рост как трехмерных островков $\gamma$-FeSi$_2$, так и двумерных $\beta$-FeSi$_2$. Обнаружено, что при покрытиях Fe толщиной более 0.32 nm наблюдается полный переход к твердофазной эпитаксии только двумерных островков $\beta$-FeSi$_2$. Исследовано влияние длительного отжига при 850$^\circ$C на морфологию поверхности пленки силицида железа.

Поступила в редакцию: 25.05.2009


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2010, 52:2, 397–403

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026