Аннотация:
Методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и дифракции медленных электронов изучено строение графена на поверхности Ni(110). Показано, что в СТМ-изображениях наблюдается структура муара, зависящая от ориентации доменов, составляющих слой графена. Предложена простая модель, позволяющая на основе вычисления расстояний между соседними атомами углерода и никеля предсказать структуру муара и дать интерпретацию СТМ-изображений. Проведенный теоретический расчет угловых зависимостей энергии кластеров графена с различным числом атомов углерода на Ni(110) показал, что конечная ориентация доменов графена, образующихся при синтезе, определяется углом поворота кластеров малого размера на начальных стадиях роста.