Эта публикация цитируется в 4 статьях

Системы низкой размерности

Подвижность 2D-электронов при рассеянии на коррелированном распределении примесных ионов в тонких легированных слоях

В. М. Михеев

Институт физики металлов УрО РАН, Екатеринбург, Россия

Аннотация: Рассмотрены пространственные корреляции примесных ионов в тонких легированных слоях. Для описания корреляций в расположении примесных ионов развита модель жестких сфер на плоскости. В этой модели получено аналитическое выражение для структурного фактора 2D-электронов. Изучены концентрационные зависимости подвижности 2D-электронов в гетероструктурах с раздельным легированием на примере Al$_x$Ga$_{1-x}$As/GaAs.

Поступила в редакцию: 16.08.2010

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2011, 53:4, 864–871

Реферативные базы данных:

•