Аннотация:
Методом рефлектометрии поляризованных нейтронов изучались особенности магнитных текстур многослойных тонкопленочных систем [CoFe/TiZr]$_{68}$ и [CoFe/TiZr]$_{195}$ при разных вариантах приложения внешнего магнитного поля. Разработана методика учета систематических погрешностей измерительной установки, что позволило в зеркальных отражениях “с переворотом спина нейтрона” обнаружить дополнительные компоненты, происхождение которых не связано с известным механизмом “зеемановского расщепления”. Для указанных образцов наблюдались сильные различия гистерезисных кривых, остаточной намагниченности и магнитных текстур. При анализе полученных экспериментальных данных использовались результаты предыдущих работ автора.
Поступила в редакцию: 12.07.2010 Принята в печать: 25.08.2010