Международная конференция ФизикА.СПб, 20-24 октября 2025 г., Санкт-Петербург
Физика поверхности, тонкие пленки

Концентрационные зависимости параметров ферромагнитного резонанса композитных пленок CoFeB/SiO$_2$ для различных углов между направлением магнитного поля и плоскостью пленок

З. Н. Блинов^a, Л. Н. Котов^a, В. А. Устюгов^a, Д. В. Заварин^a, П. Д. Ковалев^a, Ю. Е. Калинин^b, А. В. Ситников<sup>b

a</sup> Сыктывкарский государственный университет, Сыктывкар, Россия
^b Воронежский государственный технический университет, Воронеж, Россия

Аннотация: Получены концентрационные зависимости резонансного поля и ширины линии ферромагнитного резонанса (ФМР) при разных углах $\varphi$ между направлением магнитного поля и плоскостью пленок для двух серий композитных пленок CoFeB/SiO$_2$, полученных при разных условиях напыления. Пленки первой серии имели в основном гранулированную структуру, а пленки второй серии имели гранулярно-перколяционную структуру, которая при больших концентрациях металлов $x$ включала в себя полосовую магнито-металлическую структуру. Показано, что резонансное поле для пленок обеих серий, уменьшается с ростом концентрации $x$. Резонансное поле и ширина линии ФМР увеличиваются с ростом угла $\varphi$ для пленок обеих серий с разной структурой. Продемонстрировано, что метод ФМР является структурно-чувствительным методом исследования композитных пленок.

Ключевые слова: композитные металл-диэлектрические пленки, концентрация металлов, структура, ферромагнитный резонанс.

Поступила в редакцию: 30.04.2025
Исправленный вариант: 08.09.2025
Принята в печать: 11.11.2025

DOI: 10.61011/FTT.2025.12.62437.8044k-25