Аннотация:
Представлены результаты исследования возможности использования решеточно-согласованных с кремниевой подложкой многослойных композиций GaN|InP для формирования верхнего перехода методом плазмохимического атомно-слоевого осаждения. В ходе исследования были получены температурные зависимости темновой проводимости и фотопроводимости, что позволило оценить фотоэлектрические свойства пленок на основе сверхрешеток GaN|InP, а также отдельных слоев InP и GaN. Получены значения энергий активации фотопроводимости для структур GaN|InP в диапазоне 0.17–0.25 eV и для отдельных слоев InP и GaN – 0.1 и 0.4 eV соответственно.