Аннотация:
Легированные сверхрешетки (СР) GaAs/AlAs, выращенные на поверхностях (311)$A$ и (311)$B$, были исследованы с применением методики спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС). При обратном рассеянии с “торца” СР (с применением микроприставки для исследования КРС) удалось обнаружить фононные и фонон-плазмонные моды с различными направлениями волновых векторов в плоскости СР (т. е. распространяющиеся в различных латеральных направлениях). Впервые экспериментально обнаружена латеральная анизотропия смешанных фонон-плазмонных мод, обусловленная структурной анизотропией в СР, выращенной на фасетированной поверхности (311)$A$.