Эта публикация цитируется в 3 статьях

Полупроводники

Спектры отражения поликристаллов SmS в дальней инфракрасной области

Ю. В. Улашкевич, В. В. Каминский, М. М. Казанин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Измерены спектры отражения поликристаллических образцов SmS в дальней инфракрасной области в широком интервале температур (293–80 K). Показана эффективность таких измерений для определения градиента концентрации свободных электронов, что важно для оценки величины термовольтаического эффекта в образце.

Поступила в редакцию: 18.04.2012

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2012, 54:11, 2198–2200

Реферативные базы данных:

•