Аннотация:
Сравниваются методы расчета функций диэлектрического отклика разупорядоченных веществ по пропусканию (субмиллиметровый диапазон) и отражению (ИК диапазон) на примере функциональных стекол LaBGeO$_5$ и LaBSiO$_5$ со структурой стиллвеллита. В рамках четырехпараметрической факторизованной модели дисперсии определены диэлектрические параметры стекол LaBGeO$_5$ и LaBSiO$_5$ и выполнено соотнесение спектральных полос с фрагментами структуры.