Эта публикация цитируется в 3 статьях

Оптические свойства

Исследование двойникованных опалоподобных структур методом малоугловой рентгеновской дифракции

А. К. Самусев^a, И. С. Синев^a, К. Б. Самусев^a, М. В. Рыбин^a, А. А. Мистонов^b, Н. А. Григорьева^b, С. В. Григорьев^c, А. В. Петухов^d, Д. В. Белов^d, Е. Ю. Трофимова^a, Д. А. Курдюков^a, В. Г. Голубев^a, М. Ф. Лимонов<sup>a

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^b Санкт-Петербургский государственный университет
^c Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
^d Debye Institute for Nanomaterials Science, Utrecht University, Utrecht, The Netherlands

Аннотация: В результате исследования малоугловой дифракции рентгеновского излучения на пленках синтетического опала в зависимости от ориентации образца была проведена интерпретация всех наблюдаемых $(hkl)$ дифракционных рефлексов. Выполнена процедура реконструкции обратной решетки исследованных пленок. Проведены расчеты картин дифракции и профилей интенсивности рассеяния вдоль цепочек узлов обратной решетки. Показано, что проявление в реконструированной обратной решетке опалов цепочек перекрывающихся узлов, ориентированных вдоль направления $\Gamma\to L$, является следствием двух факторов: малой толщины пленки и дефектов упаковки.

Поступила в редакцию: 28.03.2012

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2012, 54:10, 2073–2082

Реферативные базы данных:

•