Аннотация:
Остаточные деформации решетки нанокристаллов, ответственные за формирование состояния с поперечной магнитной анизотропией, в образцах сплава Fe–Si–Nb–B–Cu (файнмет), подвергнутых отжигу под действием растягивающей нагрузки и последующему релаксационному отжигу при 500–600$^\circ$C, фиксировались методом рентгеновской дифракции. Относительные растяжения и сжатия межплоскостных расстояний сопоставлялись со значениями константы индуцированной магнитной анизотропии, определенными из петель магнитного гистерезиса. Показано, что в процессе релаксационного отжига при температуре нанокристаллизации (500–540$^\circ$C) происходит уменьшение остаточных деформаций, которое сопровождается уменьшением константы поперечной магнитной анизотропии. Обнаружена линейная корреляция растяжений и сжатий межплоскостных расстояний для разных кристаллографических плоскостей и константы магнитной анизотропии. Отклонение от линейности наблюдается после отжига при температуре 600$^\circ$C, что связывается с возможными увеличением размеров нанокристаллов, изменениями в их структуре и частичной кристаллизацией аморфной матрицы.