Аннотация:
Исследовано поведение внутренних микронапряжений, величины области когерентного рассеяния рентгеновского излучения и остаточного количества металлической фазы при циклическом нагружении монокристаллов SmS гидростатическим давлением выше критического для фазового перехода полупроводник–металл. Показано, что разрушение образцов происходит при достижении микронапряжениями величин, соответствующих пределу прочности монокристаллов SmS. С увеличением количества циклов нагружений наблюдается плавное уменьшение области когерентного рассеяния, сопровождающееся уменьшением количества металлической фазы в образцах.