Аннотация:
Исследовано влияние ((0.3–7.3) $\cdot$ 10$^2$ Gy) низкоэнергетического ($W$ = 8 keV) малых доз ((0.3–7.3) $\cdot$ 10$^2$ Gy) излучения и постоянного магнитного поля ($B$ = 0.17 T) на структурные, микромеханические и микропластические характеристики кристаллов кремния.
Выявлены особенности динамического поведения дислокаций, проявляющиеся при самостоятельном воздействии только рентгеновского излучения, а также при комбинированном (рентгеновском и магнитном) воздействии на кристаллы кремния.
Поступила в редакцию: 02.11.2011 Принята в печать: 10.01.2012