Аннотация:
Проведены измерения спектров ЭПР и удельной проводимости керамики La$_{1-x}$Sr$_x$Mn$_{0.925}$Zn$_{0.075}$O$_3$ ($x$ = 0.075, 0.095, 0.115) с аттестованной рентгенографическим методом кристаллической структурой. Установлено, что при $x$ = 0.095 в температурной области от 190 до 228 K наблюдается ярко выраженная зависимость удельного сопротивления от магнитного поля. Для образцов с $x$ = 0.075 и 0.115 подобного поведения не обнаружено. Наблюдается линейное увеличение ширины линии ЭПР с ростом температуры в диапазоне от 180 до 380 K для всех образцов, тангенс угла наклона уменьшается с ростом концентрации стронция.