Эта публикация цитируется в 2 статьях

Металлы

Выявление рекристаллизованной структуры посредством автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов

Т. Н. Конькова^a, С. Ю. Миронов^ab, А. В. Корзников^a, М. М. Мышляев<sup>cd

a</sup> Институт проблем сверхпластичности металлов РАН, г. Уфа
^b Department of Materials Processing, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Sendai, Japan
^c Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, г. Москва
^d Институт физики твердого тела им. Ю.А. Осипьяна РАН, г. Черноголовка, Моск. обл.

Аннотация: Обсуждается возможность применения метода автоматического анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) для выявления рекристаллизованной структуры в частично рекристаллизованном материале. Выполненный анализ был проведен на основе новых экспериментальных результатов. Показано, что метод EBSD может быть успешно использован для исследования процесса рекристаллизации.

Поступила в редакцию: 19.07.2011
Принята в печать: 06.09.2011

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2012, 54:4, 694–698

Реферативные базы данных:

•