Аннотация:
Проведено развитие метода обработки спектров многократного малоуглового рассеяния (ММУРН) для получения информации о неоднородностях вещества: их размере и концентрации. Предложен метод построения зависимости ширины линии ММУРН от толщины образца исходя из углового распределения нейтронов, измеренного на одном образце. Стандартный метод обработки данной зависимости усовершенствован для применения при любых кратностях рассеяния и полного учета инструментальной линии двухкристального спектрометра. Проведено тестирование метода на спектрах ММУРН образцов ферромагнетика Fe–Ni, порошках Al и ВТСП-керамике.