Эта публикация цитируется в 18 статьях

Механические свойства, физика прочности и пластичность

Изменение микротвердости немагнитных кристаллов после их экспозиции в магнитном поле Земли и переменном поле накачки в схеме ЭПР

В. И. Альшиц, Е. В. Даринская, М. В. Колдаева, Е. А. Петржик

Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, г. Москва

Аннотация: Обнаружены изменения микротвердости кристаллов ZnO, триглицинсульфата (TGS) и гидрофталата калия (KAP) после их выдержки (30 min) в скрещенных супернизких магнитных полях: поле Земли $B_{\mathrm{Earth}}\approx$ 50 $\mu$T и ортогональном к нему переменном поле $\tilde{B}\approx$ 3 $\mu$T. В кристаллах ZnO микротвердость возрастает, а в TGS и KAP – убывает. Максимальное изменение (10–15%) достигается через 1–3 h после магнитной обработки, а затем наблюдается постепенный возврат микротвердости к исходному значению в течение первых суток. После достаточной паузы эффект полностью воспроизводится в тех же условиях. Резонансная частота поля накачки $\tilde{B}$ отвечает условию ЭПР с $g$-фактором, близким к двум. Магнитная память обладает сильной анизотропией: для каждого из кристаллов найдено направление, при совпадении которого с вектором магнитного поля Земли $\mathbf{B}_{\mathrm{Earth}}$ эффект полностью или частично подавляется. В кристаллах ZnO и TGS – это оси симметрии 6 и 2 соответственно. А в кристалле KAP – это направление в плоскости спайности, ортогональное оси 2. Обсуждаются возможные физические механизмы наблюдаемых явлений.

Поступила в редакцию: 13.07.2011

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2012, 54:2, 324–331

Реферативные базы данных:

•