Эта публикация цитируется в 8 статьях

Магнетизм

Особенности магнитных свойств “толстых” микропроводов, полученных методом Улитовского–Тейлора

Е. Е. Шалыгина^a, Н. В. Умнова^b, П. П. Умнов^b, В. В. Молоканов^b, В. В. Самсонова^a, А. Н. Шалыгин^ac, А. А. Рожновская<sup>a

a</sup> Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
^b Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, г. Москва
^c НПП "ВИЧЕЛ", Москва, Россия

Аннотация: Представлены результаты исследования магнитных свойств исходных и термически обработанных Co$_{69}$Fe$_4$Cr$_4$Si$_{12}$B$_{11}$-микропроводов в стеклянной оболочке диаметром $D$, равным 125 $\mu$m, и диаметром аморфной металлической жилы $d$, равным 90 $\mu$m, полученных методом Улитовского–Тейлора. Обнаружено, что магнитные характеристики, в частности, поле насыщения $H_S$ и коэрцитивная сила $H_C$, отожженных при температуре $T<$ 300$^\circ$C образцов не отличаются от $H_S$ и $H_C$ исходной микропроволоки, а в отожженных – при $T\ge$ 400$^\circ$C возрастают практически на порядок. Полученные экспериментальные данные объяснены структурными особенностями микропроводов. Установлено, что приповерхностные значения $H_S$ и $H_C$ при $T<$ 300$^\circ$C больше объемных примерно в 5–10 раз. Эти экспериментальные данные объяснены наличием присущих аморфным материалам структурных и химических неоднородностей в приповерхностном слое. С дальнейшим повышением температуры отжига это различие уменьшается, но значения $H_S$ и $H_C$ существенно увеличиваются. Этот факт объяснен началом процессов кристаллизации микропроводов.

Поступила в редакцию: 05.07.2011

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2012, 54:2, 287–292

Реферативные базы данных:

•