Аннотация:
Показана возможность создания и изучены оптические свойства структуры, представляющей собой матрицу эпитаксиального GaAs со встроенной периодической последовательностью квазидвумерных слоев нановключений Bi. В спектрах оптического отражения от такой структуры обнаружен резонансный пик, обусловленный брэгговской дифракцией электромагнитных волн, рассеивающихся на системе нановключений. Значительная амплитуда пика отражения (около 15% при нормальном падении света) обусловлена тем, что длина волны брэгговского резонанса близка к длине волны локализованного поверхностного плазмонного резонанса в системе наночастиц висмута в матрице арсенида галлия.