Аннотация:
Методами рентгеновской дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии изучены фазовый состав и морфология двойниковой структуры кристаллов диоксида циркония, стабилизированных Y$_2$О$_3$ (от 2.8 до 4 mol.%), после термообработки при температуре 1600$^\circ$C. Показано, что с увеличением концентрации стабилизирующей примеси Y$_2$О$_3$ изменяется характер двойниковой структуры и увеличивается количество нетрансформируемой фазы $t'$. Методом микроиндентирования изучена зависимость твердости и трещиностойкости кристаллов частично стабилизированного диоксида циркония от концентрации Y$_2$О$_3$, и ориентации индентора. Наиболее устойчивым к образованию трещин оказался образец с наименьшей концентрацией стабилизирующей примеси Y$_2$О$_3$, что можно объяснить содержанием в нем большого количества тетрагональной фазы $t$, обеспечивающей трансформационный механизм упрочнения материала, и более многоуровневым характером двойникования.