Эта публикация цитируется в 3 статьях

Физика поверхности, тонкие пленки

Исследование структуры и люминесцентных свойств сверхрешеток CdF$_2$–CaF$_2$ : Eu на Si(111)

Г. А. Вальковский, М. В. Дурнев, М. В. Заморянская, С. Г. Конников, А. В. Крупин, А. В. Мороз, Н. С. Соколов, А. Н. Трофимов, М. А. Яговкина

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Проведено комплексное исследование сверхрешеток CdF$_2$–CaF$_2$ : Eu с различной толщиной бислоя (2–17.5 nm), полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на Si(111). Анализ данных рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии позволил оценить структурное совершенство слоев и интерфейсов сверхрешеток. Установлена возможность получения псевдоморфных короткопериодных сверхрешеток с периодом около 2 nm. При этом показано, что такие сверхрешетки характеризуются большей среднеквадратичной амплитудой шероховатости интерфейсов сравнительно со сверхрешетками с большим периодом. Рассмотрены особенности спектров катодолюминесценции в зависимости от периода сверхрешеток. Показано, что с уменьшением периода интенсивность собственной люминесценции фторидов увеличивается по отношению к интенсивности люминесценции, связанной с излучением примесных ионов Eu$^{2+}$. При этом появляется несколько полос излучения Eu$^{3+}$. Продемонстрированы возможности рентгеноспектрального микроанализа для определения соотношения толщин отдельных слоев в короткопериодных сверхрешетках.

Поступила в редакцию: 27.12.2012

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2013, 55:7, 1498–1504

Реферативные базы данных:

•