Эта публикация цитируется в 3 статьях

Металлы

О влиянии электрического потенциала на пластическую деформацию проводников

Ю. А. Хон, П. П. Каминский, Л. Б. Зуев

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия

Аннотация: С целью развития и совершенствования методики применения двухкристального спектрометра из монокристаллического слитка Si высокого совершенства были на единой основе изготовлены спектрометрические пары в различных сочетаниях геометрии рассеяния: по Брэггу, по Лауэ и их комбинация. Предлагаются возможные схемы их использования в сочетании с кристаллом-анализатором в опытах по малоугловому рассеянию нейтронов.

Поступила в редакцию: 20.11.2012

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2013, 55:6, 1131–1135

Реферативные базы данных:

•