Аннотация:
Приводятся результаты изучения электропроводящих свойств с наноразмерной локальностью при наноамперных токах, а также результаты анализа связи электропроводности со структурными особенностями природного стеклоуглерода – шунгита. Использовались методы атомно-силовой микроскопии, электросиловой спектроскопии, микроскопии сопротивления растекания, рентгеноспектрального анализа, спектроскопии комбинационного рассеяния. Выявлены различия в электропроводящих свойствах структурно схожих образцов шунгита, имеющих различные $PT$-условия образования. На основе анализа структурных параметров и особенностей состава шунгитов показано, что наиболее значимым для их электрофизических свойств является эффект интеркалирования примесей в пограничные слои графеновых плоскостей. Разная степень интеркалирования определяет различие типов и величин проводимости образцов.
Поступила в редакцию: 22.08.2012 Принята в печать: 19.11.2012