RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2013, том 55, выпуск 5, страницы 995–1002 (Mi ftt12432)

Эта публикация цитируется в 25 статьях

Атомные кластеры

Электрофизические свойства и структурные особенности шунгита (природного наноструктурированного углерода)

Е. А. Голубев

Институт геологии Коми НЦ УрО РАН, Сыктывкар, Россия

Аннотация: Приводятся результаты изучения электропроводящих свойств с наноразмерной локальностью при наноамперных токах, а также результаты анализа связи электропроводности со структурными особенностями природного стеклоуглерода – шунгита. Использовались методы атомно-силовой микроскопии, электросиловой спектроскопии, микроскопии сопротивления растекания, рентгеноспектрального анализа, спектроскопии комбинационного рассеяния. Выявлены различия в электропроводящих свойствах структурно схожих образцов шунгита, имеющих различные $PT$-условия образования. На основе анализа структурных параметров и особенностей состава шунгитов показано, что наиболее значимым для их электрофизических свойств является эффект интеркалирования примесей в пограничные слои графеновых плоскостей. Разная степень интеркалирования определяет различие типов и величин проводимости образцов.

Поступила в редакцию: 22.08.2012
Принята в печать: 19.11.2012


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2013, 55:5, 1078–1086

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026