Эта публикация цитируется в 11 статьях

Физика поверхности, тонкие пленки

Электропроводность и зонная структура тонких поликристаллических пленок EuS

В. В. Каминский, Н. Н. Степанов, М. М. Казанин, А. А. Молодых, С. М. Соловьев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: На основании исследования электросопротивления тонких поликристаллических пленок EuS (толщина 0.4–0.8 $\mu$m) в диапазоне температур 120–480 K предложена модель зонной структуры данного вещества. Показано, что основными примесными уровнями в тонких поликристаллических пленках EuS являются уровни, отвечающие локализованным состояниям вблизи дна зоны проводимости, а также примесные донорные уровни $E_i$, соответствующие ионам Eu, находящимся вне регулярных узлов кристаллической решетки. При этом “хвост” локализованных состояний простирается по крайней мере до энергии -0.45 eV.

Поступила в редакцию: 29.10.2012

 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2013, 55:5, 1074–1077

Реферативные базы данных:

•